金相顯微鏡 SC-50M

金相顯微鏡 SC-50M

科研級(jí)微分干涉DIC金相顯微鏡，2K屏導(dǎo)電粒子壓痕檢測(cè)金相顯微鏡

      全新SC-50M 研究級(jí)金相顯微鏡多項(xiàng)首創(chuàng)于一身，從外觀到性能都緊跟國際設(shè)計(jì)風(fēng)向，致力于拓展工業(yè)領(lǐng)域全新格局。SC-50M 秉承不斷探索不斷超越的品牌設(shè)計(jì)理念，為客戶提供完善的工業(yè)檢測(cè)解決方案

多檔分光比觀察頭設(shè)計(jì)

       全新SC-50M 系列觀察筒，采用寬光束成像系統(tǒng)設(shè)計(jì)，支持26.5mm 的超寬視野觀察帶給您全新的大視野體驗(yàn)。兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒，保證樣品的移動(dòng)方向與您通過目鏡觀察到的方向一致，使操作更加得心應(yīng)手。

       三檔式鉸鏈三目觀察筒，在成像光線 用于雙目觀察或三目攝影的基礎(chǔ)上，增加一檔20%用于雙目觀察，80% 用于顯微攝影，方便用戶同時(shí)對(duì)鏡下圖像與視頻圖像進(jìn)行對(duì)比觀察；

偏振系統(tǒng)

偏振系統(tǒng)包括起偏器和檢偏器，可做偏光檢測(cè)，在半導(dǎo)體和PCB 檢測(cè)中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和360 度旋轉(zhuǎn)式檢偏器。360°旋轉(zhuǎn)式檢偏器可在不移動(dòng)標(biāo)本的情況下，方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài)。可在偏振系統(tǒng)的基礎(chǔ)上加載舜宇全新研發(fā)微分干涉器，建立諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)。

諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)

     全新研發(fā)的U-DICR 微分干涉組件，可以將明場(chǎng)觀察下無法檢測(cè)的細(xì)微高低差，轉(zhuǎn)化為高對(duì)比度的明暗差并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來，如LCD 導(dǎo)電粒子，精密磁盤表面劃痕等。